طیف سنج مادون قرمز تبدیل فوریه  دانشگاه تهران - پردیس دانشکده های فنی - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر

آزمایشگاه مربوطه :

آزمایشگاه اندازه گیری وخصوصیت یابی سلولهای خورشیدی-پایلوت تحقیقاتی تولید سلولهای خورشیدی دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران

سازمان مربوطه :

دانشگاه تهران - پردیس دانشکده های فنی - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر

نشانی آزمایشگاه :

تهران،خ کارگر شمالی،روبه روی کوچه ی هفتم،پردیس شماره 2دانشکده ی فنی،دانشکده ی برق،آزمایشگاه پایلوت فتولتایک

مشخصات طیف سنج مادون قرمز تبدیل فوریه :

تاریخ بروزرسانی : ۱۳۹۵/۰۵/۳۱

نام انگلیسی :

Fourier Transform Infrared Spectrometer

آخرین وضعیت دستگاه :

آماده سرويس دهي

توضیحات :

روش FTIR یک روش طیف سنجی می‌باشد. در این روش می‌توان عناصر تشکیل دهنده لایه ها را به صورت غیر مخرب شناسایی کرد. به این صورت که هر ماده یا هر پیوند فوتون های انرژی را در فرکانس های خاصی جذب و پراکنده می‌کند. هر پیوند حالت‌های تحریک شده خاصی را دارد. هر حالت تحریک شده فرکانس خاص خود را دارد. در این سیستم اطلاعات فرکانسی در بازه بزرگی و با سرعت و دقت بالا استخراج می‌شود. از طریق قله های طیف جذبی می‌توان پیوندهای N-H ، Si-H، Si-Si، Si-N و ... را بررسی کرد. این سیستم برای اندازه گیری انواع نمونه های لایه نازک، پودر و ... مناسب است.

زمان سرویس دهی با این دستگاه
روز ساعت شروع ساعت پایان توضیحات
شنبه ۹:۰۰ ۱۷:۰۰ شنبه تا چهارشنبه